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Journal Of Microelectromechanical Systems

微機電系統雜志
國際簡稱:J MICROELECTROMECH S

Journal Of Microelectromechanical Systems

SCIE

按雜志級別劃分: 中科院1區 中科院2區 中科院3區 中科院4區

  • 3區 中科院分區
  • Q2 JCR分區
  • 78 年發文量
  • 100.00% 研究類文章占比
  • 20.45% Gold OA文章占比
ISSN:1057-7157
創刊時間:1992
是否預警:否
E-ISSN:1941-0158
出版地區:UNITED STATES
是否OA:未開放
出版語言:English
出版周期:Bimonthly
影響因子:2.5
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
審稿周期: 約3.0個月
CiteScore:6.2
H-index:131
出版國人文章占比:0.15
開源占比:0.2209
文章自引率:0.0740...

Journal Of Microelectromechanical Systems雜志簡介

Journal Of Microelectromechanical Systems是由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商主辦的工程技術領域的專業學術期刊,自1992年創刊以來,一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號(ISSN:1057-7157,E-ISSN:1941-0158),出版周期Bimonthly,其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動工程技術專業及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流,發表同行有創見的學術論文,提倡學術爭鳴,激發學術創新,開展國際間學術交流,為工程技術領域的發展注入活力。

該期刊文章自引率0.0740...,開源內容占比0.2209,出版撤稿占比0,OA被引用占比0,讀者群體主要包括工程技術的專業人員,研究生、本科生以及工程技術領域愛好者,這些讀者群體來自全球各地,具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Microelectromechanical Systems已被國際權威學術數據庫“ SCIE(Science Citation Index Expanded) ”收錄,方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用,有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創新發展。

CiteScore(2024年最新版)

  • CiteScore:6.2
  • SJR:0.744
  • SNIP:1.187
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Mechanical Engineering Q1 140 / 672

79%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 199 / 797

75%

CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估,打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據,跨越多個學科領域,從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分,包括SNIP(源文檔標準化影響)、SJR(SCImago雜志排名)、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標,幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。

CiteScore分區值與影響因子值數據對比

Journal Of Microelectromechanical Systems中科院分區表

中科院分區 2023年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 3區 3區 3區 4區
中科院分區 2022年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 3區 3區 3區 4區
中科院分區 2021年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區 3區
中科院分區 2021年12月基礎版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 4區 3區 4區 4區
中科院分區 2021年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 2區 3區 3區 3區
中科院分區 2020年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY 納米科技 PHYSICS, APPLIED 物理:應用 3區 3區 3區 3區
中科院分區表歷年分布趨勢圖

WOS期刊JCR分區(2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 165 / 352

53.3%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 28 / 76

63.8%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 99 / 140

29.6%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 87 / 179

51.7%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q2 168 / 354

52.68%

學科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 37 / 76

51.97%

學科:NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY SCIE Q3 73 / 140

48.21%

學科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q2 83 / 179

53.91%

JCR(Journal Citation Reports)分區,也被稱為JCR期刊分區,是由湯森路透公司(現在屬于科睿唯安公司)制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫,按照期刊的影響因子進行排序,按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區:Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是,JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)存在不同之處。例如,兩者的分區數量不同,JCR分為四個區,而中科院分區則分為176個學科,每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外,兩者的影響因子取值范圍也存在差異。

歷年發文數據

年份 年發文量
2014 160
2015 235
2016 119
2017 153
2018 130
2019 122
2020 200
2021 129
2022 101
2023 78

期刊互引關系

被他刊引用情況
期刊名稱 引用次數
J MICROELECTROMECH S 359
MICROMACHINES-BASEL 298
SENSOR ACTUAT A-PHYS 287
J MICROMECH MICROENG 219
IEEE SENS J 206
MICROSYST TECHNOL 193
SENSORS-BASEL 190
IEEE T ULTRASON FERR 93
APPL PHYS LETT 92
SCI REP-UK 84
引用他刊情況
期刊名稱 引用次數
J MICROELECTROMECH S 359
J MICROMECH MICROENG 190
SENSOR ACTUAT A-PHYS 163
APPL PHYS LETT 109
IEEE SENS J 66
J APPL PHYS 58
IEEE T ULTRASON FERR 56
LAB CHIP 52
SENSOR ACTUAT B-CHEM 51
NANO LETT 41
若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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